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低功耗测试
低功耗测试
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摘要：
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低功耗测试向量产生技术的研究
低功耗
测试
测试向量产生
一种低功耗BIST测试方法
寄存器传输级
内建自测试
故障模型
随机抵抗性故障
低功耗测试序列生成电路的建模及分析
RSIC测试序列
数学建模
特性
种子向量
片外测试
低功耗单输入跳变测试理论的研究
低功耗设计
测试生成器
随机单输入跳变
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期刊影响力
新潮电子
主办单位：
重庆西南信息有限公司
出版周期：
半月刊
ISSN：
1007-077X
CN：
50-1077/TN
开本：
出版地：
中国重庆市渝北区洪湖西路18号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
chi
出版文献量（篇）
6766
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