基于BP神经网络的电路最优测试集的生成设计

• 作者: 张巍 张春仙 王妍
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 神经网络 电路 故障诊断 最优测试集
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 288-289,307
• 页数: 3页
• 分类号: TP216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2009.05.120

摘要

BP神经网络是目前用于模拟电路故障诊断的神经网络之一.本文应用BP神经网络完成了实际电路最优测试集的生成设计,验证了基于BP神经网络的最优测试集的生成的可行性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张巍	海军工程大学电气与信息工程学院	17	109	6.0	9.0
2	张春仙	海军工程大学电气与信息工程学院	8	47	4.0	6.0
3	王妍	海军工程大学电气与信息工程学院	5	7	2.0	2.0