一种基于加权区域采样的直线反走样生成算法

• 作者: 付勇 杭后俊
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅化 Bresenham画线算法 反走样 加权区域采样算法
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 智能、算法、系统工程
• 页码范围: 138-141
• 页数: 4页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 2230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2009.06.038

摘要

直线反走样生成算法是光栅化图形算法中的重要内容.主要讨论了一种离散化的加权区域采样方法.将一个像素均匀分割成若干个子像素,根据每个子像素在像素中的位置赋予它们一定的权值.讨论了如何计算一个像素对线段的贡献(也即是该像素的灰度).对Bresenham画线算法进行了改进,给出了一种反走样算法.从实验的结果看,该算法具有比较明显的反走样效果;和传统的反走样算法相比,文中算法效率更优.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杭后俊	安徽师范大学数学计算机科学学院	20	96	6.0	9.0
2	付勇	合肥工业大学计算机科学技术系	2	15	1.0	2.0