智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究

• 作者: 张李静 张秋燕
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 操作系统 ISO7816-3 测试模块 Testing COS
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 集成微系统
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.04.009

摘要

设计了智能卡操作系统底层驱动模块和FLASH读写模块,并提出针对这些模块函数的测试方案.首先介绍智能卡操作系统的基本概念和智能卡硬件的基本结构;然后以接触式智能卡为例,从芯片的硬件结构出发,提出COS操作系统通信和硬件模块以及操作系统的异常处理机制的设计方案,并提出一种操作系统底层的测试方案,即Testing COS.这里从COS性能的角度出发设计底层模块,并提出针对底层模块函数的测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张秋燕	天津理工大学电子信息与通信工程学院	10	40	4.0	6.0
2	张李静	天津理工大学电子信息与通信工程学院	3	9	1.0	3.0