关于IGBT导通延迟时间的精确测量方法

• 作者: 严仲明 李海涛 王豫 肖广大 董亮 马学林
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: IGBT TDC-GP2 导通延迟时间 测量
• 年，卷（期）: 2009,（20）
• 所属期刊栏目: 设计验证与测试
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.20.006

摘要

IGBT以英输入阻抗高,开关速度快,通态压降低等特性已成为当今功率半导体器件的主流器件,但在它的使用过程中,精确测量导通延迟时间,目前还存在不少困难.在介绍时间测量芯片TDC-GP2的主要功能和特性的基础上,利用其优良的特性,设计一套高精度的lGBT导通延迟时间的测量系统,所测时间间隔通过液晶显示器直接读取,是一套较为理想的测量方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严仲明	西南交通大学超导研究开发中心	32	171	8.0	11.0
2	董亮	西南交通大学超导研究开发中心	29	131	7.0	10.0
3	李海涛	西南交通大学磁浮技术与磁浮列车教育部重点实验室	25	163	8.0	11.0
4	肖广大	西南交通大学超导研究开发中心	1	2	1.0	1.0
8	马学林	西南交通大学超导研究开发中心	1	2	1.0	1.0