Raman光谱研究厚度对La_(0.9) Sr_(0.1) MnO_3/Si薄膜结构的影响

• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 薄膜 La_(1-x)Sr_xMnO_3共焦显微拉曼 微结构
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 8008-8013
• 页数: 6页
• 分类号: O6
• 语种: 中文

摘要

通过溶胶一凝胶旋涂方法结合后退火工艺在Si(100)上制备了不同厚度的La_(0.9) Sr_(0.1) MnO_3(LSMO)薄膜,利用X射线衍射(XRD)和共焦显微拉曼散射(Raman)研究了LSMO/Si(100)薄膜的微结构.研究结果表明90 nm厚的LSMO薄膜具有正交相结构,当厚度大于150 nm时,薄膜具有菱方相结构.150 nm厚的薄膜的Raman图谱中,490 cm-1和602cm~(-1)正交结构中的Jahn-Teller特征峰和670 cm~(-1)附近菱方相中MnO6八面体的反对称伸缩模式振动特征峰非常明显,表明薄膜为两相共存结构.随着薄膜厚度的增加,薄膜的晶格常数发生变化,α增大,c减小.这是由于在较厚的薄膜中,相邻MnO_6八面体间的夹角变大,Mn-0键长增长.通过使用不同波长的激光Raman散射证实,LSMO/Si薄膜的确具有两相共存结构.由于LSMO和Si衬底间晶格失配,衬底与薄膜的界面处产生了应力,薄膜具有在衬底与薄膜的界面处为正交相、表面为菱方相的双层结构.利用不同波长激发的Raman散射,可以很容易的研究LSMO/Si薄膜的界面结构.