并行自动测试系统硬件结构研究

• 作者: 卓家靖 孟晨 方丹
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 自动测试系统 并行测试 硬件结构 仪器资源 开关系统
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 820-821,853
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

为实现自动测试系统高效率和低成本,对并行自动测试系统的硬件结构进行了研究,提出了单处理器架构方式下的并行自动测试系统硬件结构;并具体对测试控制器,接口总线、仪器资源以及开关系统等各硬件模块的特点进行了研究,通过分析它们对并行测试的支持,明确了并行自动测试系统设计中的关键技术,可指导系统的实际开发.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟晨	军械工程学院导弹工程系	164	1365	19.0	27.0
2	方丹	军械工程学院导弹工程系	25	67	4.0	6.0
3	卓家靖	军械工程学院导弹工程系	11	80	6.0	8.0