感耦等离子体发射光谱/质谱分析新型陶瓷材料研究进展

• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: 新型陶瓷材料 等离子体发射光谱/质谱 综述
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 页码范围: 2838-2842
• 页数: 5页
• 分类号: O657.3
• 字数: 5180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)10-2838-05

摘要

新型陶瓷材料在信息、航空航天、生命科学等现代科学技术各个领域中发挥了极其重要的作用.微量、痕量杂质对材料的光、电等性能影响巨大.因此微量、痕量杂质含量的精确测定对材料制备和性能调控至关重要.文章综述了近10年来等离子体发射光谱/质谱(ICP-AES/MS)在新型陶瓷材料的微、痕量杂质分析方面的应用.结合作者的研究工作,着重介绍和评论了等离子体发射光谱/质谱各种进样方法的优缺点,并展望其发展趋势.