SPC在软件过程度量中的应用及改进

• 作者: 杜庆峰 马慧珺
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 软件过程度量 统计过程控制 选控图
• 年，卷（期）: 2009,（24）
• 所属期刊栏目: 软件技术与数据库
• 页码范围: 103-104,107
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 1735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2009.24.034

摘要

在介绍软件过程度量原理的基础上,讨论Shewhart控制图的构成和分析方法.结合实例,分析统计过程控制在软件过程度量中的作用.针对传统Shewhart控制图无法区分软件过程之间影响的缺陷,借助选控图理论对现有方法在软件过程度量中的不足提出改进.有效区分软件过程的相互作用,定性和定量地分析软件过程的稳定性和性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜庆峰	同济大学软件学院	27	143	5.0	11.0
2	马慧珺	同济大学软件学院	1	4	1.0	1.0