IDS技术缺陷分析及其解决方案探索

• 作者: 郭振民
• 来源期刊: 产业与科技论坛
• 学科: 工学
• 关键词: IDS 技术模型 技术缺陷 解决方案
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 科技创新
• 页码范围: 122-123
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 3388字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5641.2009.03.051

摘要

随着现代计算机网络技术的迅速发展,网络规模的不断扩大,网络之间的信息传输量的急剧增长,系统遭受不同程度的入侵和攻击事件趋于频繁,信息网络安全问题日益突出.本文根据IDS技术模型和实现技术为切入点,对IDS的缺陷进行了讨论和分析,提出了一些改善IDS缺陷的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭振民		2	5	1.0	2.0