模拟电路故障诊断测试节点优选新算法

• 作者: 刘光斌 徐金华 王亮
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 故障诊断 粗糙集 二进制可辨矩阵 核 约简 测试节点
• 年，卷（期）: 2009,（13）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 177-178,207
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2009.13.077

摘要

针对模拟电路故障诊断测试节点优选问题,采用粗糙集中二进制可辨矩阵的概念,将模拟电路故障诊断节点优选转化为求信息系统的最优约简.以求核作为约简的基础,给出了新的测试节点优选算法.最后,给出了新算法的应用实例,利用MATLAB程序验证了算法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亮		1	3	1.0	1.0
2	刘光斌		1	3	1.0	1.0
3	徐金华		1	3	1.0	1.0