低场磁共振机SE线性扫描弥散加权成像对超急性期脑梗死的诊断价值

• 作者: 施崇敏 杨敏 邹同恩
• 来源期刊: 西部医学
• 学科: 医学
• 关键词: 脑梗死 磁共振成像 线性扫描弥散加权成像
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 影像医学
• 页码范围: 1970-1971
• 页数: 2页
• 分类号: R816.1
• 字数: 1790字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3511.2009.11.062

摘要

目的 探讨低场磁共振机SE线性扫描弥散加权成像(DWI)序列对超急性期脑梗死的诊断价值.方法 对发病2～6小时内临床疑诊脑梗死患者18例进行常规MRI和线性扫描DWI序列成像检查,其中6例同时进行了CT检查,并进行对照分析.结果 18例超急性期脑梗死中常规MRI 13例阴性,CT检查6例均为阴性,SE线性扫描DWI序列对超急性期脑梗死敏感度高(100%),均表现为高信号.结论 SE线性扫描DWI序列对超急性期脑梗死敏感,能显示常规MRI和CT不能显示的起急性期脑死塞.