退火工艺对铁基非晶薄带磁感应效应的影响

• 作者: 刘宇安 朱正吼 蒋达国
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 物理学
• 关键词: 非晶薄带 磁感应效应 退火
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: O484.4
• 字数: 1934字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2009.08.016

摘要

研究了频率、磁场强度以及退火工艺对Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9非晶薄带磁感应效应变化幅度的影响.研究结果表明:磁感应效应变化幅度随着磁场强度的增大而增大,随着频率的升高呈现先增大后减小的趋势;与淬火态非晶薄带相比,退火可以提高磁感应效应变化幅度,且经300℃×1h退火后的磁感应效应变化幅度最大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋达国	井冈山大学数理学院	52	66	5.0	6.0
2	朱正吼	南昌大学材料科学与工程学院	114	746	14.0	17.0
3	刘宇安	井冈山大学数理学院	11	12	2.0	3.0