一款雷达芯片的基于扫描路径法可测性设计

• 作者: 何春 刘辉华 徐小良 贾宇明
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 可测性设计 扫描链 扫描寄存器 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 军事通信
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TN95
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.09.009

摘要

针对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径法的可测性设计,在设计过程中采用时钟复用技术、IP隔离技术,以及针对具体的时钟产生电路采用了其他特殊处理技术;通过采用多种恰当有效的可测性设计策略后,大大提高了该芯片电路可测性设计的故障覆盖率,最终其测试覆盖率可达到97%,完全满足设计指标的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾宇明	电子科技大学电子科学技术研究院	14	70	3.0	8.0
2	何春	电子科技大学电子科学技术研究院	24	124	7.0	10.0
3	刘辉华	电子科技大学电子科学技术研究院	13	57	4.0	7.0
4	徐小良	电子科技大学电子科学技术研究院	4	8	2.0	2.0