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原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
激光经衍射光栅衍射后的光斑亮度比和透过率的测定是保证光盘驱动器等电子设备的质量一个关键环节,采用高性能16位单片机SPCE061A创新地设计实现波长650 nm激光衍射光栅测试仪器.主要设计了测试仪的小信号采样及调理电路、单片机最小系统以及相关的软件程序.实验结果表明,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差和均方差均满足了光栅测试的精度和稳定性要求,大大提高了测试的可靠性和效率.
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文献信息
篇名 基于SPCE061A的激光衍射光栅测试仪设计
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 激光 衍射光栅 测试仪 SPCE061A 透过率 亮度比
年,卷(期) 2009,(16) 所属期刊栏目 嵌入式技术
研究方向 页码范围 38-40
页数 3页 分类号 TP216+.1|TN707
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.16.012
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研究主题发展历程
节点文献
激光
衍射光栅
测试仪
SPCE061A
透过率
亮度比
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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0
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135074
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