分布损耗对回旋行波放大器稳定性的影响

• 作者: 孙海燕 焦重庆 罗积润
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 回旋行波放大器 起振长度 起振频率 饱和功率
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 唯象论的经典领域
• 页码范围: 238-242
• 页数: 5页
• 分类号: O3
• 字数: 2306字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.01.037

摘要

基于电磁模式的色散方程和回旋管非线性理论,研究了损耗层厚度对回旋行波放大器注.波互作用的影响.结果表明,合理选择损耗层电导率和厚度能够让期待的工作模式TE01,衰减较小,而对应的竞争模式TE21因损耗很大而更难以起振,随厚度的增加,放大带宽从两边向中间收缩变窄,频带中间部分的输出功率会上升,曲线更加平坦,从而达到改善互作用稳定性的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗积润	中国科学院电子学研究所	72	330	11.0	13.0
2	焦重庆	中国科学院电子学研究所	5	24	3.0	4.0
6	孙海燕	中国科学院电子学研究所	10	110	6.0	10.0