基于广义霍夫变换的芯片检测

• 作者: 张小军 胡福乔
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 广义霍夫变化 芯片检测 物体识别
• 年，卷（期）: 2009,（23）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 252-254,257
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 3165字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2009.23.088

摘要

传统的广义霍夫变换空间复杂度及时间复杂度都很高,不适用于实时的应用.针对该问题,提出一种基于广义霍夫变换的芯片检测算法,降低了计算复杂度.该算法的主要思想是将多尺度分析与广义霍夫变换相结合.将该算法应用到自动光学检测系统的芯片检测中,取得了较好的检测结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡福乔	上海交通大学电子信息与电气工程学院	45	585	15.0	22.0
2	张小军	上海交通大学电子信息与电气工程学院	2	17	2.0	2.0