基于VMM的流量管理芯片验证

• 作者: 兰中文 刘燕 张帆 王京梅
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: VMM 流量管理 芯片 验证
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 设计验证与测试
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.12.006

摘要

流量管理芯片的验证是目前业界的热点与难点,验证工程师们一直在努力寻找用于流量测量的较好方法.采用System Verilog语言,基于Synopsys公司最新推出的验证方法学VMM,提出一种用于流量管理芯片验证的分层次验证环境.该环境对流量测量方法进行重点研究,放弃采用参考模型的传统验证思路,提供一种参考基准可变,时间窗位置可移,长度可调的,可在不同设计间高度重用的流量检测机制.该验证环境及验证方法在海思半导体某流量管理芯片开发过程中的成功应用,保证了芯片开发质量,缩短了项目开发周期,为其他同类芯片的开发提供了强有力的支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王京梅	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	36	480	9.0	21.0
2	兰中文	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	111	1184	19.0	29.0
3	刘燕	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	29	224	8.0	14.0
4	张帆		1	2	1.0	1.0