利用双谱恢复漏磁检测中的缺陷信号

• 作者: 刘勤勤 张勇 张炳武
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 无损检测 漏磁检测 双谱 信噪比
• 年，卷（期）: 2009,（29）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 16-17,20
• 页数: 3页
• 分类号: TE973.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2009.29.007

摘要

在对铁磁材料的漏磁无损检测中,缺陷信号经常受到噪声的干扰,从而影响设备的检测能力以及对缺陷的评估.通过基于双谱信号重构方法,在舍有不同噪声的检测信号中分别提取了缺陷信号的相位和幅值,实现了缺陷信号的恢复,并用实测数据对此方法进行了验证.从有多种噪声的漏磁检测信号中恢复缺陷信号为实现漏磁场的定量分析打下基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘勤勤	合肥工业大学计算机与信息学院	8	66	3.0	8.0
2	张勇	合肥工业大学计算机与信息学院	105	847	13.0	25.0
3	张炳武	合肥工业大学计算机与信息学院	11	70	3.0	8.0