驱动故障对内核模块间的影响

• 作者: 崔静 张英 李方
• 来源期刊: 电脑知识与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 错误注入 DPI 内核模块 测试方法
• 年，卷（期）: 2009,（18）
• 所属期刊栏目: 系统软件与软件工程
• 页码范围: 5030-5031,5074
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3044.2009.18.185

摘要

linux驱动程序在内核中占有很大的比例,驱动的故障对于内核的影响已经引起人们广泛的关注,虽然对此有很多的研究,但是过去的研究并没有指出由于驱动故障引起linux模块间相互影响的关系.文章首先简述错误注入方法与DPI层,接下来提出一种改进后的测试方法用来找出由于驱动故障所引起的错误现象对linux内核模块间相互影响的作用.最后对实验结果进行分析,为以后对健壮性的评估提出了更详细更可靠的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔静	军械工程学院计算机工程系	22	30	4.0	4.0
2	张英	军械工程学院计算机工程系	19	23	3.0	4.0
3	李方	军械工程学院计算机工程系	5	1	1.0	1.0