混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现

• 作者: 姜岩峰 张东 杨兵
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE1149.4 ABM TBIC 边界扫描单元
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 集成电路测试技术
• 页码范围: 48-54
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 字数: 4777字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2010.01.011

摘要

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能.本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东		25	124	5.0	10.0
2	姜岩峰	北方工业大学信息工程学院微电子中心	44	285	7.0	15.0
3	杨兵	北方工业大学信息工程学院微电子中心	20	30	3.0	4.0