基于遗传退火算法的多层薄膜厚度测量

• 作者: 余飞鸿 宫兴致 楚栋 程梁
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 多层薄膜测量 遗传退火算法 共轭梯度 光学薄膜
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 薄膜光学
• 页码范围: 45-49
• 页数: 5页
• 分类号: O484.5
• 字数: 3037字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2010.02.008

摘要

根据薄膜光学计算理论和最优化理论,本文提出了一种测量多层薄膜厚度的新的全局优化算法.首先利用遗传的种群性去寻找多个局部极值,然后将较优和较差的种群按一定概率接收并作为模拟退火的初值进行搜索.最后结合共轭梯度算法来提高收敛速度,使整体搜索效率进一步提高.这种遗传退火算法有效地提高了算法的稳定性,减少了算法对膜厚搜索范围的限制.文章最后以3层和4层光擘薄膜为例,利用该算法在10 nm至5 μm的大范围内搜索,所取得的结果,其测量误差小于1%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余飞鸿	浙江大学光电信息工程学系	67	718	15.0	23.0
2	宫兴致	浙江大学光电信息工程学系	4	11	3.0	3.0
3	程梁	浙江大学光电信息工程学系	4	32	3.0	4.0
4	楚栋	浙江大学光电信息工程学系	1	3	1.0	1.0