绝缘介质介电频谱测量方法的研究

• 作者: 张冶文 许海如 郑飞虎
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 接触法 非接触法 电介质 介电频谱
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 66-70,74
• 页数: 6页
• 分类号: TM206|TM201.44
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2010.01.019

摘要

绝缘介质的介电频谱是绝缘聚合物研究中非常重要的参数.由于测量原理、测量方法和测量技术的不同,对相同材料的实际测量结果常常有偏差,这给绝缘聚合物的研究带来许多困难.为了得到一个准确的测量结果,利用Agilent 16451B电极夹具配合Agilent 4294A精密阻抗分析仪,采用接触法和非接触法分别对线性低密度聚乙烯(LLDPE)、有机玻璃(PMMA)和聚酰亚胺(PI)薄膜进行介电频谱测试.实验结果表明,非接触法是测量绝缘介质介电频谱较合适的方法,可以获得一个准确的结果.对于工频下的电桥测量,采用专门设计的柔性联接精密接触电极也能得到精确的测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑飞虎	同济大学波耳固体物理研究所	34	439	13.0	20.0
2	张冶文	同济大学波耳固体物理研究所	77	666	15.0	23.0
3	许海如	同济大学波耳固体物理研究所	1	4	1.0	1.0