脉冲电流对纯Si凝固组织及性能的影响

• 作者: 刘日平 常国伟 张新宇 张春祥 张龙 王建中 王强
• 来源期刊: 燕山大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲电流 Si 凝固
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 318-322
• 分类号: TG111.4
• 字数: 2924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-791X.2010.04.007

摘要

用频率为3 Hz、6 Hz、10 Hz脉冲电流处理了纯Si熔体试样.用金相显微镜、原子力显微镜对试样进行观察,可以看出经过脉冲电流处理后的纯Si,组织及晶粒粗大化,晶界也变的越来越不明显;利用扫描电子显微镜观察试样断口形貌,经脉冲电流处理后使纯Si的脆性增强;由测得的试样的电阻率,表明经脉冲电流处理试样的电阻率比未经脉冲电流处理的试样电阻率显著降低,并且随着脉冲电流频率的增大,电阻率不断减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新宇	燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室	16	51	4.0	6.0
2	张春祥	燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室	16	43	4.0	6.0
3	王建中	辽宁工业大学材料科学与工程学院	61	146	7.0	7.0
4	张龙	燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室	16	83	5.0	8.0
5	王强	燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室	38	90	4.0	9.0
6	常国伟	辽宁工业大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0