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电子产品可靠性与环境试验期刊
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EFT干扰对发射机稳定性的影响
EFT干扰对发射机稳定性的影响
作者:
王耕
谢宇
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
电快速瞬变脉冲群干扰
发射机
稳定性
摘要:
对EFT干拢产生的原理进行了阐述,并结合EFT造成的设备故障,对高频电磁环境中的EFT干扰进行了探讨,说明了EFT干扰对发射机运行稳定性的影响.
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文献信息
篇名
EFT干扰对发射机稳定性的影响
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
电快速瞬变脉冲群干扰
发射机
稳定性
年,卷(期)
2010,(1)
所属期刊栏目
安全与电磁兼容
研究方向
页码范围
41-44
页数
4页
分类号
TN838|TN03
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2010.01.010
五维指标
传播情况
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节点文献
电快速瞬变脉冲群干扰
发射机
稳定性
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研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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