微电极测深系统在石质文物表层劣化检测中的应用研究

• 作者: 李宏松 翟松涛 肖宽怀
• 来源期刊: 工程勘察
• 学科: 地球科学
• 关键词: 微电极 高密度电阻率 精细成像 文物保护
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 78-83
• 分类号: P631.3
• 语种: 中文

摘要

本文主要介绍了为检测石质文物表层劣化程度而研制开发的微电极高密度电阻率测深成像系统的指标参数及电阻率精细成像的基本原理,并结合物理模型试验结果,在云冈石窟对文物近表面的微构造、风化带、含水程度进行了精细成像测试,测试结果表明,该系统能有效地评价文物近表面的微构造、风化带划分以及含水情况,说明其在文物保护及监测领域具有较高的推广应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李宏松		12	43	4.0	5.0
2	翟松涛		1	5	1.0	1.0
3	肖宽怀		1	5	1.0	1.0