RSD应用中磁开关饱和时间测量

• 作者: 余岳辉 刘建超 尚超 李伟邦 梁淋
• 来源期刊: 电源技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: RSD 磁开关 磁滞回线 饱和时间
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 66-70
• 页数: 5页
• 分类号: TM93
• 语种: 中文

摘要

采用串联RLC振荡电路脉冲测量磁开关的电压电流,拟合它的磁滞回线,并提取相关参数对它的饱和时间进行了设计.通过Saber仿真证明了该方法的可行性.通过计算和实验,获得其在300～3000 V下的饱和时间,计算结果在51.4μs到5.1μs之间,实验结果在51.0μs到5.0μs之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余岳辉	华中科技大学电子科学与技术系	60	621	14.0	22.0
2	尚超	华中科技大学电子科学与技术系	5	20	4.0	4.0
3	李伟邦	华中科技大学电子科学与技术系	3	4	1.0	2.0
4	梁淋	华中科技大学电子科学与技术系	1	0	0.0	0.0
5	刘建超	华中科技大学电子科学与技术系	1	0	0.0	0.0