电子显微技术在纳米材料研究中的应用

• 作者: 吴海艳 周莉 臧树良
• 来源期刊: 矿冶
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米材料 TEM SEM STM AFM
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TG115
• 字数: 3510字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-7854.2010.01.014

摘要

本文概述了电子显微技术在纳米材料研究中的应用特点和适用范围,介绍了透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等电子显微技术在纳米材料中的新应用和新方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	臧树良	辽宁石油化工大学化学与材料学院	86	395	11.0	15.0
2	周莉	辽宁石油化工大学化学与材料学院	52	246	8.0	12.0
3	吴海艳	辽宁石油化工大学化学与材料学院	9	56	3.0	7.0