降感RDX微观结构的X射线小角散射分析

• 作者: 孙光爱 李洪珍 闫冠云 陈波 黄明 黄朝强
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 材料科学 RDX 小角散射(SAXS) 微观结构
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 492-496
• 分类号: TJ55|O722+.5
• 字数: 2542字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2010.05.003

摘要

应用同步辐射X射线小角散射技术研究了降感RDX材料的微观结构,分析了RDX微孔数量、尺寸以及数量分布信息.结果表明降感RDX微孔尺度随样品颗粒变化不明显,数据显示微孔平均半径只有1～2 nm的微弱变化.对比不同分析方法得到的微结构信息表明RDX内部除了微孔结构还存在裂缝微结构.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李洪珍	中国工程物理研究院化工材料研究所	54	657	16.0	22.0
2	黄明	中国工程物理研究院化工材料研究所	73	573	14.0	19.0
3	黄朝强	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	36	52	4.0	5.0
4	陈波	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	97	475	12.0	18.0
5	孙光爱	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	33	103	4.0	9.0
6	闫冠云	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	2	4	1.0	2.0