加速退化试验与加速寿命试验技术综述

• 作者: 任万滨 王召斌 翟国富
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 加速退化试验 加速寿命试验 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-6
• 分类号: TM506
• 字数: 5143字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2010.09.001

摘要

加速退化试验与加速寿命试验是解决高可靠性、长寿命产品可靠性评估等问题的两种重要加速试验技术.介绍了加速退化试验与加速寿命试验的基本概念,对两者进行了简单的比较,并进一步对加速退化试验与加速寿命试验技术的国内外相关研究现状进行了概述.最后,对该领域的研究方向进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学军用电器研究所	280	2576	26.0	34.0
2	任万滨	哈尔滨工业大学军用电器研究所	65	592	15.0	21.0
3	王召斌	哈尔滨工业大学军用电器研究所	14	56	2.0	7.0