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BGA无铅焊接不良原因及对策
BGA无铅焊接不良原因及对策
作者:
秦泉润
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
BGA封装
无铅焊接
原因
电子组装
无铅化
隐蔽性
焊点
元件
摘要:
随着无铅化的逐步推广及实施,电子组装行业已由有铅时代进入了无铅时代,在无铅Process中有些不良的问题被更加突显出来,其中BGA封装元件因其焊点的隐蔽性令后续检查及不良原因的分析带来相当的困挠。本文粗浅的列举了一些BGA常出现的问题及原因对策,希望能够给大家带来一些借鉴作用。
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文献信息
篇名
BGA无铅焊接不良原因及对策
来源期刊
电子电路与贴装
学科
工学
关键词
BGA封装
无铅焊接
原因
电子组装
无铅化
隐蔽性
焊点
元件
年,卷(期)
2010,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
45-48
页数
4页
分类号
TN405
字数
语种
DOI
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引文网络
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2010(0)
参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
BGA封装
无铅焊接
原因
电子组装
无铅化
隐蔽性
焊点
元件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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电子电路与贴装
主办单位:
中国电子学会生产技术学分会
信息产业部珠三角电子行业职业技术能鉴定培训中心
深圳市电子商会
香港盈拓科技咨询服务有限公司
出版周期:
双月刊
ISSN:
1683-8807
CN:
开本:
出版地:
深圳市富田区华发北路30号中国电子工程设
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
1505
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