基于LabView的SiO2抗辐射能力无损评价系统

• 作者: 包军林 张传丰 李伟华 杜磊 闫家铭
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: LabView SiO2介质材料 抗辐射 无损评价
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 48-51,54
• 分类号: TN304.07
• 字数: 4589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.07.015

摘要

基于MOS器件中SiO2介质材料噪声灵敏表征技术,提出了SiO2介质材料抗辐射能力无损评价方法.结合噪声测试的经验及该模型为理论分析要求,使用LabView平台开发SiO2介质材料抗辐射无损评价系统.本系统由数据采集和数据分析两个部分组成,数据采集部分主要负责噪声时间序列与频谱的采集与保存,数据分析部分的主要功能为时间序和频谱的特征值分析及SiO2介质材料抗辐射能力分析与相应器件的筛选.实验结果表明,软件性能可靠,对MOSFETT抗辐射能力的评价准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	包军林	西安电子科技大学微电子学院	43	306	10.0	16.0
3	李伟华	西安电子科技大学微电子学院	16	98	6.0	9.0
4	张传丰	西安电子科技大学技术物理学院	1	1	1.0	1.0
5	闫家铭	西安电子科技大学技术物理学院	1	1	1.0	1.0