基于PXI总线的红外导引头性能测试系统设计

• 作者: 董德新 贾明永 郑竑宇
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: PXI总线 红外导引头 自动测试系统 工业控制计算机 LabWindows/CVI
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 50-53
• 分类号: TJ765.3+33
• 字数: 3894字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5048.2010.04.012

摘要

详细描述了红外导引头自动测试系统的基本原理, 分析了测试系统的技术组成和总体结构, 阐述了基于PXI总线的测控系统的硬件结构和软件设计方法. 应用证明, 该系统工作可靠, 满足对红外导引头性能指标的测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾明永		6	30	4.0	5.0
2	董德新		3	24	3.0	3.0
3	郑竑宇		2	6	1.0	2.0