电阻率参数预测地热田深部温度方法技术研究

• 作者: 刘瑞德 孟银生 张光之
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 地热田 电阻率 温度
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 电磁法勘探
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: P631.3~+22
• 字数: 3628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2010.01.006

摘要

电阻率方法是众多地热田勘探方法中比较好的一种.用电阻率方法勘查不仅能够探测地层埋深及破碎状况,还能预测热储构造的含水性.热储构造电阻率主要取决于岩层的岩性、孔隙度、地下水矿化度及所处环境温度,当地热田勘查范围较小时,深部地层的岩性、孔隙度、地下水矿化度基本可以假定不变,因此热储构造电阻率只和温度相关.这里主要探讨地层温度和地层电阻率之间的关系,进而提出电阻率参数预测地热田深部温度方法技术,这对当前地热田勘查具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘瑞德	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	29	514	13.0	22.0
2	张光之	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	3	11	2.0	3.0
3	孟银生	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	12	90	5.0	9.0