纳米器件中的1／f噪声分析及其低噪声化处理

• 作者: 易鸿
• 来源期刊: 重庆文理学院学报：自然科学版
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米器件 介观系统 1/f噪声
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: TB32

摘要

阐述了纳米电子器件中1/f噪声的产生机理，分析了单电子晶体管1/f噪声产生的各种原因，并用介观效应的原理，揭示出宏观样品中产生1/f噪声的实质．最后，得出一种针对纳米单电子器件低噪声化处理的方法．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易鸿	四川文理学院物理与工程技术系	37	55	4.0	6.0