激光溅射离子源垂直引入式飞行时间质谱仪的研制

• 作者: 何坚 余泉 杭纬 黄本立
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 固体样品直接分析 激光溅射电离 飞行时间质谱
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 264-269
• 分类号: O657.63
• 字数: 3704字
• 语种: 中文

摘要

介绍了两台自行研制的激光溅射离子源垂直引入式飞行时间质谱仪(LAI-oa-TOFMS),相比于其他固体样品直接分析法,该仪器具有样品预处理简单、样品更换速度快(数分钟)、可进行微区分析、谱图干扰峰少和绝对灵敏度高(10-15 g级)等众多优点.两台质谱仪的最佳质量分辨率分别达到7 000和4 000(FWHM).重点对比分析了不同样品的电离方式和离子传输系统对仪器性能的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄本立	厦门大学化学化工学院现代分析科学教育部重点实验室	32	172	8.0	12.0
2	何坚	厦门大学物理与机电学院分析仪器实验室	11	70	5.0	8.0
3	余泉	厦门大学化学化工学院现代分析科学教育部重点实验室	1	2	1.0	1.0
4	杭纬	厦门大学化学化工学院现代分析科学教育部重点实验室	18	82	5.0	8.0