深空探测器薄膜材料空间辐照力学性能研究

• 作者: 丁义刚 刘宇明 沈自才 牟永强 赵春晴
• 来源期刊: 深空探测研究
• 学科: 航空航天
• 关键词: 薄膜材料 力学性能 电子辐照 远紫外辐照 探测器
• 年，卷（期）: sktcyj_2010,（4）
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: V476.4

摘要

薄膜材料在深空探测器中有着重要的应用，在深空环境辐照下，其力学性能将发生较大的变化。本文首先介绍了薄膜材料在深空探测器中的应用，接着对深空探测器常用kapton薄膜材料空间电子辐照和远紫外辐照下的力学性能进行了研究。研究发现，薄膜的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加降低，随着远紫外曝辐量的增加而呈线性减小，随着电子辐照注量的增加而呈指数减小。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	赵春晴		26	136	6.0	10.0
3	丁义刚		46	369	10.0	17.0
4	刘宇明		38	223	8.0	13.0
5	牟永强		16	142	6.0	11.0