滤纸制样X射线荧光光谱法测定矿石中的多元素

• 作者: 李田义 柯玲
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 滤纸吸附 制样 矿石
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34|O652.4
• 字数: 3816字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2010.01.018

摘要

建立了滤纸制样,以钴作内标,X射线荧光光谱测定矿石中铁、铜、铅、锌的方法.将淀粉压制成环,作为滤纸的底托,取一定量的分析溶液滴加到淀粉底托的滤纸上,将底托和滤纸放入烘箱,在50℃低温烘干,将淀粉底托和滤纸压制成形,待X射线荧光光谱仪测量.铁、铜、铅、锌的相对标准偏差(RSD,n=11)均小于5%.用国家一级标准物质验证,测量值与标准值吻合.方法操作简单、方便、快速.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李田义		3	14	1.0	3.0
2	柯玲		7	38	3.0	6.0