利用252Cf快电离室裂变γ射线测量NaI(Tl)定时精度

• 作者: 张翼 李建胜 金宇
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: NaI(Tl) 闪烁探测器 252Cf 电离室 定时精度
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 768-770
• 分类号: TL812.1
• 字数: 1192字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.06.012

摘要

为了测量γ射线入射NaI(Tl)探测器的定时相对不确定范围,利用纳秒响应252Cf快电离室,通过252Cf裂变γ射线和中子飞行时间谱测量,由γ射线峰时间宽度获得探测器定时精度.采用BC501液体闪烁探测器和NaI(Tl)探测器,γ峰的FWHM分别为1.2 ns和1.7 ns,NaI(Tl)探测器的定时精度FWTM能够达到3.5 ns.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建胜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	25	70	5.0	7.0
2	金宇	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	11	11	2.0	3.0
3	张翼	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	11	14	2.0	3.0