红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向

• 作者: 孙国恩 张春玲 徐经伟 滕红 窦艳丽
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 红外光谱 线阵列检测 聚合物分散液晶 分子取向
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1182-1185
• 分类号: O6
• 字数: 2848字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1096.2010.01182

摘要

采用偏振红外光谱和变温红外光谱研究聚合物分散液晶膜中液晶分子取向随外加电场及温度的变化.利用线阵列检测技术表征了聚合物与液晶界面处的成分分布.结果表明,线阵列检测技术能够快速而直观地给出成分分布图,通过该成分分布图可以解释PDLC在温度场作用下分子取向的变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张春玲	吉林大学材料科学与工程学院教育部汽车重点实验室	25	275	9.0	16.0
2	徐经伟	中国科学院长春应用化学研究所国家电化学和光谱研究分析中心	21	140	6.0	11.0
3	窦艳丽	吉林大学材料科学与工程学院教育部汽车重点实验室	19	119	5.0	10.0
4	孙国恩	吉林大学材料科学与工程学院教育部汽车重点实验室	24	212	7.0	14.0
5	滕红	吉林大学第二医院妇产科	44	137	7.0	9.0