原子荧光在中国电子电气产品检测中的应用进展

• 作者: 冯礼 刘明钟 刘霁欣 秦德元 裴晓华 高明义
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 经济
• 关键词: 原子荧光 RoHS Cr(Ⅵ) 电子电气产品 重金属检测
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: "AFS技术及标准化"专题
• 页码范围: 11-13,16
• 分类号: F2
• 字数: 3677字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2010.05.004

摘要

回顾了原子荧光的发展,并综述了原子荧光在中国电子电气产品中重金属元素检测领域的进展:主要是开发了原子荧光测Cr(Ⅵ)的方法和仪器,及对现有测Pb、Cd的方法进行改进,以解决电子电气产品中高金属基体对测量的干扰.最后,展望了原子荧光在中国电子电气检测领域中的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘霁欣		15	189	8.0	13.0
2	裴晓华		12	83	4.0	9.0
3	冯礼		10	43	4.0	6.0
4	秦德元		11	41	4.0	6.0
5	高明义		2	13	2.0	2.0
6	刘明钟		2	38	2.0	2.0