电连接器微动磨损研究综述

• 作者: 任万滨 焦玉斌 翟国富
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 电连接器 微动 磨损 电接触 表面形貌
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与简介
• 页码范围: 28-38
• 页数: 11页
• 分类号: TM503+5
• 字数: 5926字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2010.01.007

摘要

持续的机械振动应力将引起电连接器中插针与插孔发生微动磨损,相应出现的电接触故障是导致电连接器功能失效的根本原因之一.本文概括了近年来国内外学者对此问题的研究进展,列举了对微动磨损研究可采用的试验方法;分析了镀层材料、微动幅值、接触压力、循环次数及接触表面形貌等因素对微动性能的影响;描述了微动引起接触电阻间歇变化的现象及最新的仿真分析技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学军用电器研究所	280	2576	26.0	34.0
2	任万滨	哈尔滨工业大学军用电器研究所	65	592	15.0	21.0
3	焦玉斌	哈尔滨工业大学军用电器研究所	2	39	2.0	2.0