亚毫米波成像技术对工业排线的无损检测

• 作者: 孙文峰 崔烨 张岩 王新柯
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 亚毫米波 准近场成像 无损检测
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 112-115
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

利用亚毫米波准近场实时成像系统对三种常用的微小结构的工业电子排线进行检测,直接获得了样品在信号峰值处的强度图像.分别对样品中的金属、缺陷及包覆材料连接处抽取数据,并对其进行频谱及相位处理,在时域、频域及相位图中做了对比与分析.通过对原始图像进行图像处理后,分别得到振幅和相位图像,其中相位图像能更清晰地反映排线中隐藏的缺陷.结果证明,亚毫米波准近场成像系统可以用于具有细微结构材料的无损检测.