半导体器件失效案例统计与综合分析

• 作者: 范士海
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体器件 失效案例 失效类别 失效模式 失效原因
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 50-54
• 分类号: TN3
• 字数: 5094字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2010.05.012

摘要

电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上.本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范士海		9	11	2.0	3.0