电阻阵列非均匀性测试

• 作者: 廖守亿 张金生 苏德伦
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻阵列 非均匀性校正 图像退化 非均匀性测试
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 345-348,352
• 分类号: TN215
• 字数: 3338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008

摘要

电阻阵列的非均匀性是一种固定模式的空间噪声,已成为影响红外图像质量的主要因素.根据电阻阵列的非均匀性信息,对其输入数据进行补偿是校正非均匀性的一种有效的方式.分析了校正算法对非均匀性测试的需求;提出基于成像探测的非均匀性测量手段;研究了图像退化对非均匀性测试的影响;根据测试中输入图像数据的特点,提出一种基于迭代测试的盲复原方法.仿真结果表明,基于迭代的复原方法能有效地从退化图像中复原电阻阵列的实际非均匀性图像,并取得较好的校正效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖守亿	第二炮兵工程学院精确制导与仿真实验室	49	313	8.0	15.0
2	张金生	第二炮兵工程学院精确制导与仿真实验室	80	552	13.0	16.0
3	苏德伦	第二炮兵工程学院精确制导与仿真实验室	19	105	6.0	8.0