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高强度辐射场环境下电子设备的防护与设计
高强度辐射场环境下电子设备的防护与设计
作者:
刘广荣
田龙
原文服务方:
航空计算技术
高强度辐射场(HIRF)
电磁兼容
适航
摘要:
航空电子电气系统暴露于高强度辐射场(HIRF)环境下的误动作与工作失效等灵敏度问题,严重影响了飞行器的安全系统.因此,研究HIRF对飞机安全的影响就变得十分有必要.详细介绍了美国联邦航空局和中国民航适航部门在适航认证方面的相关标准及法规,以及设计者如何设计出符合HIRF认证标准的航空电子电气系统.
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机载电子设备
闪电防护
TVS
闪电间接效应
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文献信息
篇名
高强度辐射场环境下电子设备的防护与设计
来源期刊
航空计算技术
学科
关键词
高强度辐射场(HIRF)
电磁兼容
适航
年,卷(期)
2010,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
104-107
页数
分类号
TN973.3
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1671-654X.2010.04.030
五维指标
作者信息
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姓名
单位
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被引次数
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田龙
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2
刘广荣
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节点文献
高强度辐射场(HIRF)
电磁兼容
适航
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
航空计算技术
主办单位:
中国航空工业西安航空计算技术研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1671-654X
CN:
61-1276/TP
开本:
大16开
出版地:
西安市太白北路156号
邮发代号:
创刊时间:
1971-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
3986
总下载数(次)
0
总被引数(次)
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