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摘要:
MEMS器件的性能与尺寸密切相关.介绍了一种精确控制器件尺寸的各向异性腐蚀方法--基于改进TMAH溶液的PN结自停止腐蚀.这种方法几乎不刻蚀铝,从而与CMOS工艺良好地兼容.应用这种办法正面腐蚀,成功释放结构,尺寸与设计比较符合,证明了这种方法的可行性及易操作性.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 基于TMAH溶液的PN结自停止腐蚀的研究
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 四甲基氢氧化铵 自停止腐蚀 Al钝化
年,卷(期) 2010,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 262-265
页数 分类号 TN305.2
字数 2198字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2010.03.003
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研究主题发展历程
节点文献
四甲基氢氧化铵
自停止腐蚀
Al钝化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导