半电波暗室环境与测试误差的研究

• 作者: 冯元清 朱明
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: EMC 电磁环境 天线 半电波暗室
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 认证与实验室
• 页码范围: 69-72,80
• 分类号: TN06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.05.024

摘要

EMC测试中,环境的复杂性是影响其测试精度的主要原因之一,论文以EMC电波暗室为对象,就测试环境的要求,进行了一些有意义的测试和研究,总结了测试中出现的误差.并对改善测试提供了一些建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱明		1	1	1.0	1.0
2	冯元清		1	1	1.0	1.0