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摘要:
采用PCI-6251数据采集卡和LabVIEW平台,设计了一套半导体光源的P-I特性测试系统.该系统通过软件驱动数据采集卡为发光器件提供合适的驱动电压,采集发光器件的光功率和驱动电流,实现了P-I特性曲线的测量、分析和存储等功能.测试结果表明该系统设计成本低、测量效率高、人机界面友好、操作简单、扩展性强,适用于教学、实验及科研等领域.
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文献信息
篇名 基于LabVIEW的半导体光源P-I特性测试系统
来源期刊 光学与光电技术 学科 工学
关键词 虚拟仪器 数据采集 半导体光源 P-I特性
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 光电测量
研究方向 页码范围 39-41
页数 3页 分类号 TP216
字数 1803字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-3392.2010.02.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张永林 暨南大学光电工程研究所 51 591 14.0 22.0
2 李强 暨南大学光电工程研究所 22 212 9.0 14.0
3 曾显光 暨南大学光电工程研究所 3 33 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
虚拟仪器
数据采集
半导体光源
P-I特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学与光电技术
双月刊
1672-3392
42-1696/O3
大16开
武汉市阳光大道717号
38-335
2003
chi
出版文献量(篇)
2142
总下载数(次)
3
总被引数(次)
9791
论文1v1指导