第7届IC的先进光子学失效分析技术国际研讨会

• 作者: 汪家楫
• 来源期刊: 国际学术动态
• 学科: 经济
• 关键词: 国际研讨会 失效分析 光子学 IC 技术 上海复旦大学 微电子产业 实体经济
• 年，卷（期）: gjxsdt_2010,（1）
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 分类号: F426.63

摘要

由复旦大学和日本Hamnmntsu Photonics K．IC联合举办的第7届IC的先进光子学失效分析技术国际研讨会（APFA08）于2008年11月27日在上海复旦大学成功举行。此次研讨会的召开时间恰逢世界金融危机不断向实体经济迅速扩展之时，微电子产业也经受了极其猛烈的冲击，不少企业减产、裁员、停工甚至倒闭。但此次APFA08研讨会依然得到了微电子业界的热烈响应，

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪家楫	复旦大学材料科学系	2	0	0.0	0.0